x射線鍍層測厚儀是天瑞集多年的經驗，專門研發用于鍍層行業的一款儀器，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。是一款功能強大的儀器，配上專門為其開發的軟件，在鍍層行業中可謂大展身手。
x射線鍍層測厚儀性能特點
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求；
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求；
高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm；
采用高度定位激光，可自動定位測試高度；
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊；
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點；
高分辨率探頭使分析結果更加準確；
良好的射線屏蔽作用；
測試口高度敏感性傳感器保護。
標準配置
開放式樣品腔。
二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
FAST-SDD探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器。
保護傳感器。
計算機及噴墨打印機。
x射線鍍層測厚儀的應用領域
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測；
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定；
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
歡迎進入深圳市天瑞儀器股份有限公司網站！
15994807208
產品簡介
相關文章
當前位置：
產品分類
上一個：
返回列表
