應用X射線發檢測金屬電鍍層厚度在精度上，可以現場與進口儀器現場PK；在價格上，可以給用戶大的優惠；在技術支持與售后服務上，給到客戶的是完善的售后支持。
應用X射線發檢測金屬電鍍層厚度測量標準
1標GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法
2.美標準A754/A754M-08
Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
樣品測試步驟
1.每天開機預熱30分鐘后打開測試軟件“FpThick"：
用戶使用“Administrator"，密碼：skyray
2.進入測試軟件后，選擇“測試條件"
點擊“確定"，即測試條件確定（儀器已設置好）
3.選擇“工作曲線"
如待測樣品是鐵鍍鎳，則選擇Ni-Fe；其他依次類推
4.放入“Ag片"對儀器進行初始化
初始化完成后，（峰通道為1105，計數率達到定的數，如300以上）。
5.待測樣品測試
放入待測的樣品，通過攝像頭畫面觀察當前放入的樣品的表面情況，以及儀器的X射線的聚焦點。可以通過軟件提供的十字坐標（也稱十字光標）來定位該聚焦點，將樣品放在聚焦點位置。點擊“開始"，輸入樣品名稱后“確定"。
6.測試完成后即可保持報告，報告的位置可以在桌面的“分析報告"快捷方式中的“鍍層報告"中找到。
注意：測試鍍層樣品時，必須先要確定是什么鍍層、選擇好對應的工作曲線測試。
技術參數
1 分析元素范圍：S-U
2 可分析多達3層以上鍍層
3 分析厚度檢出限高達0.02μm
4 多次測量重復性高可達0.05μm
5 定位精度：0.5mm
5 測量時間：30s-300s
6 計數率：1000-8000cps
7 儀器適合測試平面。以單層Fe鍍Ni的標樣為例，分析的范圍是0.02—30um，在這個范圍內，才能檢測。0.5-10um的，偏差是5%，就是說真值是1um，用儀器測試的值是0.95-1.05um。
性能優勢
下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準直器和濾光片手動切換：不同樣品材質用不同的準直器
移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點
高分辨率探測器：提高分析的性
新代的高壓電源和X光管：性能穩定，高達50W的功率實現更高的測試效率
儀器硬件配置
1 探測器
1.1. 電制冷半導體探測器分辨率：160±5電子伏特；
1.2. 對樣品特征X射線進行探測；把探測采集的信息,放大。
2 光管
2.1. 使用壽命大于2萬小時；
2.2. 產生X射線激發樣品。
3 高、低壓電源
3.1. 管壓：5KV～50KV，管流大為1000uA；
3.2. 為X光提供專用電源。
4 放大電路:
4.1.對采集來的信號進行數據處理,并將處理結果傳輸給計算機。
5 高清晰攝像頭
5.1試樣觀察；
6 移動平臺（自動）
3.6.1樣品微調移動平臺，樣品測試位置性。
7 樣品腔
8 準直器
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